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光谱仪X荧光分析仪镀层厚度测试仪

更新时间:2025-03-29 17:01:57 编号:473uh3e13b792d
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  • 金属镀层分析仪,X荧光光谱仪,X荧光分析仪,XRF仪器

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光谱仪X荧光分析仪镀层厚度测试仪

关键词
天瑞光谱仪,测厚仪,光谱仪,膜厚仪
面向地区

随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。它适用范围广,量程宽、操作简便且,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

仪器配置
01 立的X/Y/Z轴控制系统
02 微焦斑X光管
03 可变高压电源
04 防撞板外加防撞激光保护检测器对仪器进行双重安全保护
05 Fast-SDD探测器
06 双激光定位装置
07 标配可自动切换的准直孔和滤光片

性能优势
1、结合镀层行业微小样品的检测需求,研发适用于镀层检测的超近光路系统,减少能量过程损耗。搭载的多导毛细管聚焦管,的提升了仪器的检测性能,聚焦强度提升1000~10000倍,更高的检测灵敏度和分析精度以及高计数率测试结果的性和稳定性。
2、全景区双相机设计,呈现全高清广角视野,让样品观察更全面;微米级别分辨率,更好的满足超微产品的测试,让测试更广泛更便捷。
3、的多导毛细管技术,信号强度比金属准直系统高出几个数量级。
4、多规格可选的多导毛细管,很好的满足用户不同测试需求。
5、XYZ轴移动测试平台,结合双激光点位定位系统,可实现在样品测试过程中的全自动化感受一键点击,测试更省心。

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公司资料

江苏天瑞仪器股份有限公司
  • 刘召贵
  • 江苏 苏州
  • 股份有限公司(上市)
  • 2006-07-04
  • 人民币461760000万
  • 500-999
  • 涂层检测仪
  • 镀层测厚仪,rohs检测仪器,手持式光谱仪,土壤重金属检测仪
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